T. Ando (Tokyo Institute of Tech.) G. E. W. Bauer (Delft U. of Tech.) R. Blatt (U. Innsbruck) A. Houck (Yale U.) Z. Hiroi (U. Tokyo) W. M. Itano (NIST) C. L. Kane (U. Pennsylvania) A. Kobayashi (Nagoya U.) H. Kohno (Osaka U.) C. M. Marcus (Harvard U.) J. E. Mooij (Delft U. of Tech.) N. Nagaosa (U. Tokyo) J. Nitta (Tohoku U.) F. Nori (RIKEN & U. of Michigan) Y. Ohashi (Keio U.) H. Ohno (Tohoku U.) Y. Otani (U. Tokyo) S. S. P. Parkin (IBM) E. Saitoh (Keio U.) N. Tajima (RIKEN) Y. Takahashi (Kyoto U.) H. Takayanagi (Tokyo U. of Science) S. Tarucha (U. Tokyo) G. Tatara (Tokyo Metropolitan U.) Y. Tokura (U. Tokyo) A. Tonomura (Hitachi) M. Tsubota (Osaka City U.) M. Ueda (U. Tokyo) H. Yamaguchi (NTT) C. N. Yang (Tsinghua U.) A. Zeilinger (U. Vienna) M. W. Zwierlein (MIT)